Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie
Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit Sekundärelektronendetektor wird benutzt, um Kristallmorphologie, Oberflächenmorphologie und Struktur der Partikel oder Agglomerate zu visualisieren. Sie dient auch dazu die Eigenschaften von Produktoberflächen aufzuzeigen. Typische Größenbereiche sind ~0,1 µm bis wenige Millimeter.
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Instrument- und Messprinzip
Particle Analytical benutzt ein Rasterelektronenmikroskop ausgestattet mit Detektoren für Sekundärelektronen und Rückstreuungselektronen. Der Rückstreuungsdetektor dient dazu die Unterschiede in der molekularen Dichte zu messen, wodurch Dichteunterschiede in Granulaten und Tabletten sichtbar werden.
| Technische Details | |
| Instrument | Rasterelektronenmikroskop Leica Stereoscan 360, ausgestattet mit Detektoren für Sekundärelektronen und Rückstreuung. |
| Probenanforderungen | Die Substanz muss mit leitendem Material beschichtet werden (etwa Gold), um Elektronen zu beugen (sputter-coating). Die Probe muss trocken sein. |
| Probenmenge | Einige Milligramm |
| Ergebnis | Mikroskopfotos der Substanz bei verschieden Vergrößerungen |